北京波恩公司研發生產的BN- UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
隨著科學技術與生產應用的發展及人們環境保護意識的提高，紫外輻照計得到越來越廣泛的應用。
·UV-A紫外輻照計 適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的 紫外輻照度測量工作。便攜式，分單通道和雙通道型兩種。
·UV-B紫外輻照計 適用于殺菌、光刻、水處理、醫療、育種等領域的紫外輻照度測量工作。便攜式，分單通道和雙通道型兩種。
·UV-M多通道型紫外輻照計 將UV-A、UV-B的功能集為一身，是小型臺式機。
產品特點:
* 光譜及角度特性經嚴格校正
* 數字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
主要技術指標:
|
探頭（二選其一）：
|
UV-420nm 探頭
|
UV-365nm 探頭
|
|
波長范圍及峰值波長:
|
λ：(375～475)nm；λP＝420nm
|
λ：(320～400)nm；λP＝365nm
|
|
紫外帶外區雜光：
|
UV420：小于0.02%
|
UV365：小于0.02%
|
|
輻照度測量范圍：
|
(0.1～199.9×103) μW/cm2
|
|
相對示值誤差：
|
±10%（相對與NIM標準）
|
|
角度響應特性：
|
±5%(α ≤10°)
|
|
線性誤差：
|
±1%
|
|
短期不穩定性：
|
±1%（開機30min后）
|
|
響應時間：
|
1秒
|
|
使用環境：
|
溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
|
|
尺寸和重量：
|
160mm×78mm×43mm；0.2kg
|
|
電源：
|
常規使用6F22型9V積層電池一只
亦可使用數據線連接USB接口、5V電源適配器供電
整機功耗 ＜0.1VA
|
附錄：
探頭光譜響應曲線
